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  • 系列回路電阻測(cè)量?jī)x
    系列回路電阻測(cè)量?jī)x

    系列回路電阻測(cè)量?jī)x 回路電阻測(cè)量?jī)x是根據(jù)中華人民共和國(guó)電力執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)DL/T845.4-2004,采用高頻開(kāi)關(guān)電源技術(shù)和數(shù)字電路技術(shù)相結(jié)合設(shè)計(jì)而成。 回路電阻測(cè)量?jī)x適用于開(kāi)關(guān)控制設(shè)備回路電阻的測(cè)量。其測(cè)試電流采用國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)推薦的直流100A。可在電流100A的情況下直接測(cè)得回路電阻,并用數(shù)字顯示出來(lái)。該儀器測(cè)量準(zhǔn)確、性能穩(wěn)定,符合電力、供電部門(mén)現(xiàn)場(chǎng)高壓開(kāi)關(guān)維修和高壓開(kāi)關(guān)廠回路電阻測(cè)試的要求

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  • 600A回路電阻測(cè)試儀供應(yīng)商價(jià)格
    600A回路電阻測(cè)試儀供應(yīng)商價(jià)格

    600A回路電阻測(cè)試儀供應(yīng)商價(jià)格 根據(jù)電力設(shè)備預(yù)防性試驗(yàn)規(guī)程《 DL/T 596 — 1996 》的要求,各種開(kāi)關(guān)設(shè)備的導(dǎo)電回路電阻測(cè)試,其測(cè)試電流不得小于100A。由于接觸面氧化、接觸緊固不良等原因?qū)е陆佑|電阻增大,在大電流流過(guò)時(shí),接觸點(diǎn)溫度升高,這更加速接觸面氧化,使接觸電阻進(jìn)一步增大,持續(xù)下去將產(chǎn)生嚴(yán)重事故,因此有必要經(jīng)常或定期對(duì)接觸電阻進(jìn)行測(cè)量。

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  • GH-600A回路電阻測(cè)試儀,開(kāi)關(guān)觸頭接觸電阻測(cè)試儀
    GH-600A回路電阻測(cè)試儀,開(kāi)關(guān)觸頭接觸電阻測(cè)試儀

    GH-600A回路電阻測(cè)試儀,開(kāi)關(guān)觸頭接觸電阻測(cè)試儀 根據(jù)電力設(shè)備預(yù)防性試驗(yàn)規(guī)程《 DL/T 596 — 1996 》的要求,各種開(kāi)關(guān)設(shè)備的導(dǎo)電回路電阻測(cè)試,其測(cè)試電流不得小于100A。由于接觸面氧化、接觸緊固不良等原因?qū)е陆佑|電阻增大,在大電流流過(guò)時(shí),接觸點(diǎn)溫度升高,這更加速接觸面氧化,使接觸電阻進(jìn)一步增大,持續(xù)下去將產(chǎn)生嚴(yán)重事故,因此有必要經(jīng)常或定期對(duì)接觸電阻進(jìn)行測(cè)量。

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  • 觸頭接觸電阻測(cè)試儀-回路電阻測(cè)試儀
    觸頭接觸電阻測(cè)試儀-回路電阻測(cè)試儀

    觸頭接觸電阻測(cè)試儀-回路電阻測(cè)試儀 ,各種開(kāi)關(guān)設(shè)備導(dǎo)電回路電阻的測(cè)量,其測(cè)試電流不得小于100A。對(duì)此我廠按新規(guī)程要求設(shè)計(jì)開(kāi)發(fā)出新一代智能回路電阻測(cè)試儀產(chǎn)品,該產(chǎn)品適用于測(cè)試高低壓開(kāi)關(guān)的主觸頭接觸電阻值,高低壓電纜線(xiàn)路的直流電阻值等。HLY-Ⅲ智能回路電阻測(cè)試儀采用100A恒流輸出。

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  • 觸頭接觸電阻測(cè)試儀,開(kāi)關(guān)觸頭儀器
    觸頭接觸電阻測(cè)試儀,開(kāi)關(guān)觸頭儀器

    觸頭接觸電阻測(cè)試儀,開(kāi)關(guān)觸頭儀器 根據(jù)電力設(shè)備預(yù)防性試驗(yàn)規(guī)程《 DL/T 596 — 1996 》的要求,各種開(kāi)關(guān)設(shè)備的導(dǎo)電回路電阻測(cè)試,其測(cè)試電流不得小于100A。由于接觸面氧化、接觸緊固不良等原因?qū)е陆佑|電阻增大,在大電流流過(guò)時(shí),接觸點(diǎn)溫度升高,這更加速接觸面氧化,使接觸電阻進(jìn)一步增大,持續(xù)下去將產(chǎn)生嚴(yán)重事故,因此有必要經(jīng)常或定期對(duì)接觸電阻進(jìn)行測(cè)量。

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